El sistema de tomografía computarizada CT Compact de YXLON está equipado con el recientemente desarrollado detector de línea.

Hamburgo, Agosto 2018: Con el CTScan 3 Yxlon de YXLON lanza su propio y completamente nuevo detector de línea y reemplaza a su predecesor Y.LineScan. Por ahora, el sistema de tomografía computarizada CT Compact estará equipado con el nuevo detector de línea CTScan 3 de YXLON como un componente estándar. En el futuro,  el FF85 CT y los sistemas modulares CT de YXLON se beneficiarán también de sus capacidades. Los innovadores avances tecnológicos y los métodos optimizados de producción ofrecen una calidad de imagen insuperable y significativamente reducen la susceptibilidad al ruido. Además de la resistencia a la interferencia y bajo ruido electrónico, los fotodiodos desarrollados especialmente en particular, aseguran una señal extremadamente uniforme.

Donde anteriormente, los cristales tenían que ser separados manualmente por especialistas, producción está ahora apoyada por máquinas con el nuevo CTScan 3, dando por resultado una mejora en la uniformidad de los cristales por un factor de 5. Esto conduce a artefactos de anillos reducidos y, la alta repetibilidad de la señal permite una calibración óptima. Debido al más alto rango dinámico y mejor estabilidad de la señal, se pueden probar materiales de mayor espesor con la misma energía de rayos-X. La sólida carcasa es particularmente resistente a fluctuaciones de temperatura, asegurando un enfriamiento optimizado de la electrónica. Al mismo tiempo, asegura muy poca dispersión dentro del detector, dando por resultado imágenes mucho muy nítidas, bordes más limpios y una mejorada habilidad de detección de detalles.

El sistema CT Compact es un eficiente sistema CT de haz-de-abanico para piezas de fundición diseñadas para las industrias automotriz y aeroespacial pero, es también apropiado para el análisis no destructivo de objetos densos de arte-histórico y arqueológico y, muestras geológicas de gran escala. Se pueden generar múltiples proyecciones CT en una sola corrida de prueba, cada una con diferentes parámetros para las diferentes áreas del objeto. Esto permite un proceso de prueba mucho más rápido con una consistente calidad de imagen. Además, más de un componente pueden ser fácilmente mostrados en cada ciclo de prueba usando la función de prueba multi-partes.