Akrometrix Lanza un Nuevo Sistema de Metrología de Deformación – el Shadow Moiré de Mesa (TTSM)

ATLANTA, GA ― Junio 2017 ― Akrometrix, LLC, el proveedor líder de equipo de metrología de deformación y tensión térmica para las industrias de semiconductores y electrónica tanto al inicio como al final, se complace en anunciar que ha lanzado el más nuevo sistema de metrología de deformación – el sistema Shadow Moiré de Mesa (TTSM, por sus siglas en inglés).

“A través de los años, muchos de nuestros clientes que están usando nuestros sistemas de metrología de deformación térmica  han declarado la necesidad de un sistema de metrología de deformación a temperatura ambiente ultra rápido y altamente preciso,” declaró Mayson Brooks, Presidente de Akrometrix. “Además, querían un sistema que fuera suficientemente chico para operación en mesa y que les permitiera utilizar todas las funciones de software de nuestros sistemas de deformación térmica, solo que a temperatura ambiente.”

El TTSM satisface esta demanda – permitiendo a los clientes medir deformación de sustratos de hasta 300mm x 310 mm (un wafer de 300mm o dos charolas JEDEC) con toda la medición tomando menos de dos segundos. Ya sea partes individuales o una charola JEDEC de partes múltiples, el TTSM proporciona una medición ultra rápida y altamente precisa a temperatura ambiente que es apropiado para uso en mesa.

Para más información acerca de los sistemas de metrología de Akrometrix, por favor contacte  sales@akrometrix.com o visite www.akrometrix.com.



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